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              位置51电子网 » 技术资料 » 集成电路
              元器件涉及的啮合力和分离力试验包括两个部分2019/5/18 19:49:07
              元器件涉及的啮合力和分离力试验包括两个部分,一是连接器整体的啮合力和分离力;G5177ARE1U二是连接器中接触件的插入力和拔出力。电连接器啮合力和分离力试验是检查装配是否可靠,是...[全文]
              非塑封器件的芯片超声检查主要对芯片接触区的空洞进行检测2019/5/18 19:45:22
              非塑封器件的芯片超声检查主要对芯片接触区的空洞进行检测,在检测过程中由于安装材料的特殊性会影响检测的结果,如果不能显示真正的空洞或不能对检测结果进行明确时,G4PC50W对此类器件应在检测报告中...[全文]
              接受本试验的样品应分成相等的三组2019/5/17 21:50:53
              接受本试验的样品应分成相等的三组。把样品在室温下浸入RMA焊剂中(按GB/T%91的规定),预处理5~1os,然后把样?#20998;?#20837;215≧\5≧的环境下⇔+:s。EL2227CS-T13在预处理之后,...[全文]
              考核电子元件承受焊接所产生的热应力的能力即耐焊接热试验2019/5/17 21:32:26
              考核电子元件承受焊接所产生的热应力的能力即耐焊接热试验,属于集成电路的物理试验。EDB4432BBPJ-1D-F本试验用于确定元件是否能经受得起在焊接(烙焊、浸焊、波峰焊或再流焊)端头过程中所产...[全文]
              X射线照相技术的发展趋势 2019/5/17 21:01:44
              X射线照相技术的发展趋势目前X射线无损检测技术大致可以分为三大类:基于2D图像的X射线检测分析技术;基于2D半图像,EDB2432BCPC-8D-F具有最高放大倍数的倾斜视图的X射...[全文]
              有缺陷的密封2019/5/17 20:25:28
              有缺陷的密封:不管哪种类型的器件,只要其整个封盖密封是不连续的,或密封宽H10N60F度不到设计密封宽度的75%,就应拒收。最终密封过程所引起的喷溅不视为外来物,只要能够确认它是连续的、均匀的、...[全文]
              [全文]
              sRAM器件的单粒子翻转测试系统2019/5/15 20:24:57
              sRAM器件的单粒子翻转测试系统图3-22所示为sRAM器件单粒子翻转效应测试系统示意图。单片机控制被试sRAM器件的读/写,以及测试图形与预定图形的对比,并将比对结果发送给上?#25442;?..[全文]
              国内相关标准调研分析2019/5/14 20:36:13
              国内相关标准调研分析在半导体器件总剂量辐照试验方面,国内主M24C02-WDW6TP要'总剂量辐照试验标准如表3-6所示。表...[全文]
              剂量测试系统2019/5/14 20:32:05
              剂量测试系统所谓剂量测试系统,M24C02-RDW6TP指的是电离总剂量辐照试验过程中对辐照剂量率和辐照总剂量进行测量的装置和方法。剂量测试系统的准确性和?#34892;?#24615;是电离总剂量辐照试验...[全文]
              热真空试验温度及压力测量技术2019/5/13 21:24:29
              热真空试验温度及压力测量技术热真空试验舱内的压力是组件热平衡与热真空试验中必须模拟的重要参数之一。IC42S16400D-7TL因此,试验过程中对压力的正确测景是试验成败的关键。试...[全文]
              验证接种液中所用霉菌孢子的活性2019/5/10 22:13:53
              ¢验证接种液中所用霉菌孢子的活性;¢验证试验箱内的环境?#23460;?#38665;菌生长的程度。材料和部件的霉菌试验不能完全代表其所构成装备的霉菌生长情况,因此,如需要LF1...[全文]
              有关技术与设备要求2019/5/6 20:41:56
              有关技术与设备要求(1)有关技术。对于试验期间温度的测量,应在距离被试任一样品或同类样品组的规定的自由间隔内进行。此外,温度测量也应在由样品所产生的热对温度记录影响最小的位置上进行...[全文]
              非散热试验样品温度渐变的低温试验2019/5/5 21:53:04
              试验Ab:非散热试验样品温度渐变的低温试验,用以确定非散热的电子电工产品(包括元件、设备或其他产品)低温下存储和使用的适应性。将处于室温的试验样品,按正常位置放入试验箱内,开动冷源,使试验箱温度...[全文]
              人工模拟试验2019/5/5 21:43:58
              人工模拟试验天然暴露试验是将样品长期暴?#23545;k匀换珪程?#20214;下进行测试。现场运行试验是将样品装置在各种典型的使用现场并使它处于正常运行状态进行测试。这两种试验都能直接反映产品?#23548;适?#29992;中的...[全文]
              在正式接上样?#20998;?#21069;应试调电源电压2019/5/4 17:09:49
              (1)在正式接上样?#20998;?#21069;应试调电源电压,看纹波电压能否叠加在直流电压上。(2)试验电源与样品连接后,稍加电压。检查是否每位有电压,以保证全部样品均能通上电压。(3)根...[全文]
              电机械换能器不仅可用作单纯的耗散元件2019/5/3 18:25:01
              在考虑最大输出功率时,输人振动的频率ω和幅度zO是最主要的参数。这些参数由振动源产生。接下来,质量块m和机械?#20998;室?#25968;Qm必须最大化,因为Pm呕随着它们成比例增加。注意到,当忽略寄生阻尼的影响时,...[全文]
              验证设备在刺激过程中保持有意义的传感2019/5/2 12:28:13
              结果:验证设备在刺激过程中保持有意义的传感该系统的关键挑战之一是确保观测结果不代表刺激伪像或失真。P87LPC768FN大?#23478;?#21322;大于2.5♭单侧海马(HC)的刺激导致类似癫痫的活动...[全文]
              光子散粒噪声 2019/4/30 21:14:29
              光子散粒噪声图像传感器包含很多的噪声源,可以分为时域噪声源和空间噪声源,举例如下:1)时域噪声:拓≧噪声、约翰逊噪声、1;噪声、RTS噪声、暗电流散粒噪声、光子散粒噪...[全文]
              称重法传感器包含一个机电振荡器2019/4/30 20:38:29
              称重法传感器包含一个机电振荡器。这种情况下,振荡频率取决于电路性能和机械性能,特别是振荡器的质量。如果附?#21448;?#37327;附加在表面上DD在我们的阐述中是指DNA的杂?#25442;?#21453;应DD将会导致振荡频...[全文]
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